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IV.Calcul de la fiabilité des systèmes non réparables à fonctionnement permanent à partir des diagrammes de succèsA.Cas d’un diag de succès série![]() Rs(t) = P[Syst en BF de 0 à t] Rs(t) = P[A1BF et A2 et … et An] Les Ai étant indépendants, on a donc : Rs(t) = P(A1)xP(A2)x…xP(An) avec P(A1)= R1 P(A2)= R2 P(An)= Rn Avec Ri = R(Ai) Rs(t) = ![]() 1.Taux de pannes instantané ( λs)Hypothèse : Le Taux de panne λi des éléments sont constants Ri(t) = ![]() Rs(t) = ![]() ![]() Rs(t) = ![]() D’où finalement λs = taux de panne d’un système ![]() On a λ constant 2.MTTFs![]() B.Cas du diagramme de succès parallèle![]() Ds(t) = défiabilité d’un système ![]() car les éléments sont indépendants ![]() 1.Taux de panne du systèmes![]() f = densité de probabilité de panne R = fiabilité ![]() exemple : ![]() Les taux de panne des éléments sont constants Ds = DA1 x DA2 or ![]() Rappel ch II : R + D = 1 ![]() ![]() D’où finalement ![]() ![]() Généralisation : ![]() ![]() Regardons d’un peu plus près le comportement des λS quand t est très faible (T0) et quand T est très grand.
![]() Comme t est petit, je ne garde que le terme du développement où l’exposant de t est le plus faible ![]() On a finalement quand t est petit (début de vie du système ![]() Quand t est grand ![]() 2.Calcul du MTTFs![]() exemple simple ![]() Car où λ1 et λ2 constant ![]() Prenons l’hypothèse : λ1 = λ2 = λ ![]() cas à n éléments en parallèle dans le diagramme de succès ![]() |
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![]() | «Cross-Docking : concepts, enjeux et conditions de mise en œuvre», ecr france / The boston consulting Group, 2000 | ![]() | «retable doré à la feuille» c’est-à-dire sur lequel des feuilles d’or ont été appliquées |
![]() | ![]() | «Spécifications techniques» décrivant le profil d’échanges de données utilisé pour l’application |