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FORMATION

EN

CARACTERISATION

DE SURFACE

DES MATERIAUX

Session 1 : 19, 20 et 21 juin 2013

Session 2 : 02, 03 et 04 octobre 2013

BIOPHY RESEARCH

Actipôle Saint Charles

13710 FUVEAU

+33 (0)4 42 53 83 10 +33 (0)4 42 53 83 19

biophy@biophyresearch.com
SIRET 39093084000033 – APE 7219Z – TVA FR64390930840

Objectifs de la formation



La formation s’adresse aux ingénieurs et techniciens de l’industrie, confrontés dans leur métier à des problématiques (développement, production, qualité) liées aux surfaces et interfaces dans les matériaux : traitements de surface, matériaux à propriétés de surface contrôlées, maîtrise de la propreté de surface.
La formation vise à sensibiliser aux différents aspects de l’analyse, aux informations analytiques accessibles et à leur complémentarité afin de mieux appréhender les potentialités des différentes techniques d’analyse pour la résolution de problèmes concrets.
La formation comprend des exposés théoriques reprenant les principes physiques et des exemples d’application à des problèmes industriels, pour les principales techniques proposées par Biophy : AFM, XPS, Tof SIMS, TEM, SEM, FTIR et Raman.
Des travaux pratiques sur nos équipements AFM, XPS et Tof SIMS, permettent également de montrer le déroulement des analyses : de la préparation des échantillons à l’interprétation des résultats analytiques (possibilité d’analyser vos échantillons).
Les équipements utilisés pour les travaux pratiques sont des plus récents :

  • XPS - SCIENTA 200

  • ToF SIMS - ION TOF 5

  • AFM - VEECO multimode Nanoscope V et Dimension 3100 Nanoscope IV


A l'issue de la formation, les stagiaires seront aptes à comprendre l'apport de chacune des techniques d'analyse pour l'étude de leurs échantillons et la résolution de leurs problèmes de surface.


Lieu



La formation a lieu dans nos locaux :
BIOPHY RESEARCH

131, avenue de l’Etoile

Actipôle Saint Charles

13710 FUVEAU


Les formateurs


La formation est assurée par l'équipe de BIOPHY RESEARCH constituée d’ingénieurs et de docteurs en chimie et en sciences des matériaux, expérimentés en analyse de surface et chargés des études caractérisation de surfaces qui leurs sont confiées.


Frais d'inscription



Les frais de formation s'élèvent à 2 300.00 € HT par personne et comprennent :

  • l'encadrement et l'utilisation des instruments

  • la fourniture d'un document pédagogique

  • les repas de midi

Déclaration d’activité : BIOPHY RESEARCH est enregistré sous le numéro 93130784113 auprès du Préfet de la région PACA
Le montant de cette formation peut à cet effet s’imputer sur le budget formation de votre entreprise
Une convention de formation vous sera envoyée après réception de votre bulletin d’inscription.

Programme de la formation




Le stage est limité à 6 personnes maximum et s'étale sur 3 jours : Cours (~7 heures), Travaux Pratiques (~16 heures)


Introduction à la Physico-Chimie des Surfaces (1 h)





  • Dimensions, réactivité, sensibilité

  • Performances analytiques des techniques

  • Comparaison des techniques d'analyse de surfaces



Techniques d’Analyse de Surfaces





  • XPS (X-Ray Photoelectron Spectroscopy)


Cours (2 h) :

  • Effet photoélectrique - nomenclature des orbitales atomiques

  • Formalisme d'analyse quantitative : libre parcours moyen des électrons

  • Déplacement chimique

  • Instrumentation

  • Applications analytiques
Travaux pratiques (4 h) :

  • Analyse quantitative élémentaire et analyse des formes chimiques

  • Analyse angulaire

  • Mesure d’épaisseur




  • ToF-SIMS (Secondary Ion Mass Spectrometry)


Cours (2 h) :

  • Emission ionique secondaire : pulvérisation et ionisation - Régime dynamique et statique

  • Formalisme quantitatif

  • Instrumentation

  • Profils en profondeur et imagerie

  • Applications analytiques
Travaux pratiques (4 h) :

  • Analyse moléculaire, interprétation des spectres

  • Imagerie

  • Profil




  • AFM (Atomic Force Microscopy)


Cours (2 h) :

  • Forces d'interaction pointe-surface

  • Modes de fonctionnement :

  • mode contact : morphologie, friction

mesure des forces d'adhésion et indentation

  • mode tapping (contact-non contact) :

morphologie, contraste de phase

  • Artefacts

  • Applications
Travaux pratiques (4 h) :

  • Analyse dans les différents modes

  • Interprétation des images

  • Visualisation d’artéfacts




  • Autres Microscopies


Cours et applications (4 h) :

  • TEM (Transmission Electron Microscopy), analyse X et analyse par perte d’énergie des électrons

  • SEM (Scanning Electron Microscopy) et analyse X

  • FTIR - RAMAN






Bulletin d'inscription

Nom :      

Prénom :      
Société :      
Fonction :      
Adresse :      
Tel :      
Fax :      
E-mail :      
Oui, je souhaite m’inscrire à la session de formation du :
 19, 20 et 21 Juin 2013

 02, 03 et 04 Octobre 2013
(Votre inscription ne sera définitive qu’après réception du bulletin d’inscription et d’un bon de commande.)

Une facture sera établie au terme de la session.
A renvoyer à notre adresse (1 bulletin par personne) :
BIOPHY RESEARCH

Actipôle Saint Charles

F-13710 FUVEAU

biophy@biophyresearch.com

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